RTK點(diǎn)校正出現(xiàn)過大殘差或者測量時(shí)精度有問題時(shí)，我們可以采取以下解決辦法：

1. RTK點(diǎn)校正殘差過大的處理方法：

- 檢查控制點(diǎn)的坐標(biāo)和實(shí)際點(diǎn)位是否正確。

- 檢查所添加的點(diǎn)對是否一一對應(yīng)。

- 在測量過程中注意扶穩(wěn)中桿。

- 確認(rèn)儀器的高度是否設(shè)置正確。

- 通過坐標(biāo)反算檢查坐標(biāo)的可靠性。

- 查看選擇的控制點(diǎn)分布情況。

- 注意測點(diǎn)時(shí)周圍環(huán)境是否有遮擋和干擾。

- 確保測點(diǎn)時(shí)儀器狀態(tài)穩(wěn)定。

- 注意一個(gè)項(xiàng)目只需進(jìn)行一次點(diǎn)校正。

2. RTK測量時(shí)精度有問題的解決辦法：

- 確保測量過程中基站沒有發(fā)生變化，避免使用新的基站。

- 首先檢查經(jīng)緯度，如果經(jīng)緯度沒有變化，則說明參數(shù)轉(zhuǎn)換有問題，請檢查校正參數(shù)是否正確，可以重新進(jìn)行坐標(biāo)校正。

- 注意環(huán)境是否過于惡劣，可能導(dǎo)致差分延時(shí)的跳動。

- 檢查在空曠環(huán)境下測量精度是否存在問題。

以上是針對RTK點(diǎn)校正殘差過大和測量時(shí)精度有問題兩個(gè)常見問題的解決辦法。希望能對大家有所幫助，可以根據(jù)這些情況逐一排查并解決相關(guān)問題。

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