當我們在使用RTK進行測量作業(yè)時，可能會遇到一些不理想的觀測條件。這時候，我們可以利用間接測量功能來通過測量附近其他點的坐標來解算出需要測量點的坐標。下面是使用中海達RTK進行間接測量的步驟教程。

1. 進入間接測量功能界面：打開Hi-Survey測量軟件，點擊“工具”-“間接測量”進入間接測量界面。

2. 設置測量模式參數：在間接測量界面，有九種測量模式可選擇，根據具體情況選擇相應的測量模式。

- 四點已知測量模式：已知四個點的坐標，其中三點共線，通過求取兩線的交點來計算待測點的坐標。

- 兩點兩線測量模式：已知兩個點的坐標和兩條線段與待測點之間的距離，通過求解這兩條線段的交點來計算待測點的坐標。

- 兩點一線測量模式：已知兩個點的坐標和一個點到待測點的距離，通過求解這兩個點和待測點共線的直線的交點來計算待測點的坐標。

- 兩點兩角測量模式：已知兩個點的坐標和與待測點夾角的大小，通過求解這兩個點和待測點構成的角度來計算待測點的坐標。

- 兩點線角測量模式：已知兩個點的坐標、夾角和一個點到待測點的距離，通過求解這兩個點和待測點構成夾角的直線的交點來計算待測點的坐標。

- 偏心點測量模式：已知一個點的坐標、該點到待測點的距離和方位角，通過求解偏心點來計算待測點的坐標。

- 兩圓相交測量模式：已知兩個圓的圓心和半徑，通過求解這兩個圓的交點來計算待測點的坐標。

- 線圓相交測量模式：已知一條線段和一個圓的圓心和半徑，通過求解這條線段和圓的交點來計算待測點的坐標。

- 圓弧取點測量模式：已知兩個點的坐標、轉角角度或弧度以及一個圓的半徑，通過求解圓弧上的待測點來計算待測點的坐標。

3. 設置參數：根據所選測量模式，輸入已知點的ID、間接測量點的坐標和其他已知要素的參數。

4. 計算待求點的坐標：設置完參數后，點擊“計算”來計算待求點的坐標。

5. 保存結果：計算完成后，點擊“保存”將結果保存到坐標點庫中，可以輸入點名和圖例描述等信息。

請注意，對于兩點兩線、兩點兩角和兩點線角這三種測量模式，理論上P點可能有兩個位置，具體位置取決于先輸入的坐標。如果按順序先輸入A點的坐標再輸入B點的坐標，則P點位于AB連線的上方；如果先輸入B點的坐標再輸入A點的坐標，則P點位于AB連線的下方。

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